주요 사양
• 용 도 : PL / EL 검사 시스템 (Photoluminescence / Electroluminescence Inspection System)
LumiSolarCell System은 한 장비에서 PL과 EL 두가지 기능을 동시에 수행할 수 있으며,
Solar Cell, Wafer 에서 시각적으로 구분하기 어려운 Micro Crack, Cell Failures, Inhomogeniety 등을
검출할 수 있다.
페로브스카이트 태양전지 및 페로브 스카이트/실리콘 텐덤셀 (Perovskite/Si Tandem)의
EL, PL 측정 가능
• Image size : 1024 x 1024 pixel, 16 bit
• Measurement time : 0.3 - 60 seconds (depending on size and type of cell or module)
• 측정 분야 : Shunt Detection / Micro Cracks Identification / Finger Defects / Dead Cells / Broken Cells / Hotspots
/ Inhomogenities & Impurities
• 적용 가능 모듈 : c-Si (mono, multi), a-Si, Perovskite, CIGS, CIS, CdTe,
• 측정예 :
PL 이미지 EL 이미지
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